Leitung: Prof. Rahimpour
Forschungspartner: Hitachi Energy Germany AG
Laufzeit: 2026-2029
Große Hochspannungs- (HV), Höchstspannungs- (EHV) und Ultrahochspannungs- (UHV) Leistungstransformatoren stellen zentrale Komponenten moderner Energieversorgungssysteme dar. Ihre Isolationssysteme sind erheblichen elektrischen Beanspruchungen durch transiente Überspannungen (Transient Overvoltages, TO) ausgesetzt, insbesondere infolge von Schalthandlungen, Blitzeinwirkungen sowie internen Fehlerzuständen.
Von besonderer Bedeutung sind hierbei "Very Fast Transient Overvoltages (VFTO)", die durch sehr steile Spannungsanstiege und hochfrequente Spektralanteile bis in den MHz-Bereich gekennzeichnet sind. Mit der zunehmenden Verbreitung gasisolierter Schaltanlagen (GIS) hat die Relevanz dieser Phänomene deutlich zugenommen. Die schnellen Transienten können innerhalb der Transformatorwicklungen interne Resonanzen anregen, was zu lokal verstärkten Überspannungen und einer beschleunigten Alterung der Isolation führen kann.
Für eine zuverlässige Isolationsauslegung, Resonanzanalyse sowie für weiterführende Diagnoseverfahren sind daher präzise Hochfrequenzmodelle unerlässlich. Konzentrierte Ersatzschaltbildmodelle (Lumped Parameter Models, LPM), üblicherweise realisiert als RLC-Leiternetzwerke, werden bereits erfolgreich für Anwendungen wie die Frequenzganganalyse (FRA), die Lokalisierung von Teilentladungen (PD) sowie für Untersuchungen zur transienten Spannungsverteilung in Transformatorenwicklungen eingesetzt.
Die meisten bisherigen LPM-basierten Untersuchungen verwenden jedoch das "Disk-Pair-Modell (DPM)" als grundlegende Modellierungseinheit. Während dieser Ansatz für niederfrequentere Transienten geeignet ist, weist er für die Analyse von VFTO möglicherweise nicht die erforderliche räumliche Auflösung auf.
Zur präziseren Darstellung der steilen Spannungsgradienten und des hochfrequenten Verhaltens infolge von VFTO ist eine feinere Segmentierung der Transformatorwicklung erforderlich. Das vorliegende Projekt konzentriert sich daher auf das "Single-Turn-Modell (STM)" innerhalb des LPM-Rahmens (STM-LPM). Dieser Ansatz ermöglicht eine Windungs-zu-Windungs-Modellierung der elektrischen Parameter und damit eine deutlich verbesserte Genauigkeit bei der Analyse der internen Spannungsverteilung.
Die Validierung der entwickelten Modelle erfolgt durch experimentelle Messungen an Prototypwicklungen. Dabei wird eine Übereinstimmung zwischen Simulation und Messung sowohl im Zeit- als auch im Frequenzbereich angestrebt. Die im Projekt gewonnenen Erkenntnisse werden im weiteren Verlauf auf internationalen Fachkonferenzen präsentiert und in begutachteten wissenschaftlichen Zeitschriften veröffentlicht.